Contact :
Responsable : Ida Di-Carlo
Microscope Merlin Compact ZEISS équipé d’une colonne GEMINI I, brevet ZEISS,
- Résolution: 0.8 nm @ 15 kV; 1.6 nm @ 1 kV
- Tension : 20V – 30 kV.
- Courant : 12pA-100 nA
Détecteur SE, détecteur SE pour la haute résolution (In-lens dans l’axe, intégré dans la colonne) et d’un détecteur BSD (5 quadrants).
Logiciel d’acquisition SMART SEM.
Logiciel SMART STICH pour panoramas d’images
Système de microanalyse EDS/XRF
- détecteur EDS (sans azote) Bruker (QUANTAX – XFlash6 – 30mm2 – résolution 129 eV) pour la microanalyse ponctuelle des éléments majeurs.
- détecteur Micro XRF Bruker (XTRACE – Tube Rh – filtres Al, Ti, Ni) pour l’analyse des éléments à partir du Na.
Logiciel ESPRIT pour l’analyse intégrée EDS et XRF
Analyse qualitative, quantitative ;
Cartographie élémentaire et de phases
Il fait partie des Equipment PLANEX.