Contact : Responsable : Ida Di-Carlo Microscope Merlin Compact ZEISS équipé d’une colonne GEMINI I, brevet ZEISS,Résolution: 0.8 nm @ 15 kV; 1.6 nm @ 1 kVTension : 20V – 30 kV.Courant : 12pA-100 nADétecteur SE, détecteur SE pour la haute résolution (In-lens dans l’axe, intégré dans la colonne) et d’un détecteur BSD (5 quadrants).Logiciel d’acquisition SMART SEM.Logiciel SMART STICH pour panoramas d’imagesSystème de microanalyse EDS/XRFdétecteur EDS (sans azote) Bruker (QUANTAX – XFlash6 – 30mm2 – résolution 129 eV) pour la microanalyse ponctuelle des éléments majeurs.détecteur Micro XRF Bruker (XTRACE – Tube Rh – filtres Al, Ti, Ni) pour l’analyse des éléments à partir du Na.Logiciel ESPRIT pour l’analyse intégrée EDS et XRFAnalyse qualitative, quantitative ;Cartographie élémentaire et de phasesIl fait partie des Equipment PLANEX.