Contact :
Responsable : Ida Di-Carlo
MEB haute résolution (FEG), pression contrôlée
Détecteurs d’électrons secondaires, détecteurs d’électrons secondaires pour la haute résolution (In-Beam) et pour la pression contrôlée (LVSTD) ;
Détecteur combiné électrons rétrodiffusés (scintillateur) / cathodoluminescence (350 – 650 nm) ;
Détecteur STEM Dark Field / Bright Field ;
Platine Peltier (+10 / -50 °C)
EDAX PEGASUS
Système de microanalyse EDS / EBSD
Détecteur EDS sans azote (SDD) ;
Analyse qualitative, quantitative ;
Cartographie élémentaire et de phases ;
Analyse automatique de particules ;
Caméra EBSD haute résolution ;
Analyse couplée EDS / EBSD
RENISHAW In-Via
Spectromètre Raman et couplage MEB-Raman
3 lasers : 514, 632 et 785 nm ;
Objectifs x5 à x100 et 50 LW ;
Cartographie Raman et imagerie rapide Streamline ;
Platine Peltier -196 / + 600°C ;
Interface de couplage MEB-Raman pour acquisition Raman dans le MEB